| С34 |
Сидоренко, С. І.
Сучасний рентгеноструктурний аналіз реальних кристалів [Текст] / С. І. Сидоренко, Р. І. Барабаш. – К. : Наук. думка, 1997. – 367 с. – 5.00.
У монографії подано оригінальні сучасні теоретичні та експериментальні дифракційні методи дослідження дефектної структурикристалів. Описано особливості розсіяння рентгенівських променів.
|
