|
| | |
Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx / Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії [Текст] / Ю. М. Козирев, М. Т. Картель, М. Ю. Рубежанська [et al.]
// Доповіді Національної Академії Наук України: Математика. Природознавство. Технічні науки. – 2010. – № 1. – С. 71-76.
|
| |
|
