| P59 |
Physico-Technological Aspects of Degradation of Silicon Microwave Diodes [Текст] = Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів / A. E. Belyaev, N. S. Boltovets, E. F. Venger [et al.] ; під заг. ред.: О. Є. Беляєва, Р. В. Конакової. – Kyiv : Akademperiodyka, 2011. – 182 p. – 105,60.
Розглянуті фізичні явища, які відбуваються в перехідному шарі метал-напівпровідник і при пробитті НВЧ діодів.
|
